根據(jù)本發(fā)明的一個方面，在所述s11中，對所述端面和凸臺按照如下公式的模板匹配獲得r(x，y)值時得到兩組值(x1，y1，phi1；x2，y2，phi2)分別代表***的x坐標(biāo)、y坐標(biāo)和角度：

根據(jù)本發(fā)明的一個方面，表面瑕疵檢測系統(tǒng)，所述步驟s14包括：所述步驟s14包括：按照imagemerge1＝k1*image1+k2*image2+b對所述凸臺圖片和端面圖片進(jìn)行融合，再按照imagemerge2＝a*imagemerge1+b獲得終的融合圖片；

本發(fā)明對于鏡頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)的檢測方法，提高了斷層掃描圖像缺陷搜索的準(zhǔn)確度與精度。不會因為搜索到非對焦缺陷，導(dǎo)致算法誤檢。且對點子等檢測精度，由原來相差±10um，提高到了±5um以內(nèi)。

本發(fā)明對于鏡頭端面和凸臺的檢測方法，針對端面與凸臺檢測的耗時，由原兩張圖片分別導(dǎo)入顯卡中進(jìn)行g(shù)pu運算深度學(xué)習(xí)模型，現(xiàn)在僅需要導(dǎo)入一張圖片進(jìn)行深度學(xué)習(xí)運算極大的降低了gpu運算的消耗，瑕疵檢測，計算耗時由原1600ms，下降至900ms左右，表面瑕疵檢測，極大的提升了效率。

下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本發(fā)明作詳細(xì)地描述，實施方式不能在此一一贅述，但本發(fā)明的實施方式并不因此限定于以下實施方式。

如圖1所示，工業(yè)瑕疵檢測，本發(fā)明的鏡頭缺陷檢測方法包括s1、對鏡頭的端面、凸臺進(jìn)行缺陷檢測；s2、對鏡頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行缺陷檢測；s3、對鏡頭上表面和下表面進(jìn)行缺陷檢測。根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)思，本發(fā)明的檢測方法在實際操作中，檢測方法的步驟s1、步驟s2和步驟s3是可以任意調(diào)換的。

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