一、一般電容故障現(xiàn)象：電容開(kāi)路、擊穿、漏電、通電后擊穿
故障原因
1、元器件開(kāi)路
電容器開(kāi)路后，沒(méi)有電容器的作用。不同電路中的電容器出現(xiàn)開(kāi)路故障后，電路的具體故障現(xiàn)象不同。如濾波電容開(kāi)路后出現(xiàn)交流聲，耦合電容開(kāi)路后無(wú)聲等。
2、元器件擊穿
電容器擊穿后，PFN-C電容器購(gòu)買(mǎi)，失去電容器的作用，電容器兩根引腳之間為通路，電容器的隔直作用消失，電路的直流電路出現(xiàn)故障，從而影響交流工作狀態(tài)。
3、元器件漏電
電容器漏電時(shí)，導(dǎo)致電容器兩極板之間絕緣性能下降，兩極板之間存在漏電阻，有直流電流通過(guò)電容器，電容器的隔直性能變差，電容器的容量下降。當(dāng)耦合電容器漏電時(shí)，將造成電路噪聲大。這是小電容器中故障發(fā)生率比較高的故障，而且故障檢測(cè)困難。
4、通電后擊穿
電容器加上工作電壓后擊穿，斷電后它又表現(xiàn)為不擊穿，萬(wàn)用表檢測(cè)時(shí)它不表現(xiàn)擊穿的特征，通電情況下測(cè)量電容兩端的直流電壓為零或者很低，電容性能變壞。
***和耦合
（1）信號(hào)耦合
由于電容器通過(guò)交流電而阻隔直流信號(hào)，寶應(yīng)PFN-C電容器，它們通常用于分離信號(hào)的交流和直流分量。該方法稱(chēng)為AC耦合或“電容耦合”。
（2）去耦
去耦電容器是用于保護(hù)電路的一部分免受另一電路的影響的電容器，例如***噪聲或瞬變。由其他電路元件引起的噪聲通過(guò)電容器分流，減少了對(duì)電路的其余部件的影響。
（3）噪聲***，尖峰脈沖和緩沖器
當(dāng)感應(yīng)電路打開(kāi)時(shí)，通過(guò)電感的電流會(huì)迅速塌陷，在開(kāi)關(guān)或繼電器的開(kāi)路上產(chǎn)生大的電壓。如果電感足夠大，則能量可能產(chǎn)生火花，導(dǎo)致接觸點(diǎn)氧化。新打開(kāi)的電路上的緩沖電容器為這種脈沖繞過(guò)接觸點(diǎn)創(chuàng)造了一條路徑，從而保持了其壽命。緩沖電容器通常與串聯(lián)的低電阻一起使用。這種電阻器、電容器組合可在單個(gè)封裝中使用。
對(duì)于雙星形接線的電容器組的中性線上，PFN-C電容器***，以及多個(gè)電容器的串接線上，還應(yīng)單獨(dú)進(jìn)行放電。
電容器在變電所各種設(shè)備中屬于可靠性比較薄弱的電器，它比同級(jí)電壓的其他設(shè)備的絕緣較為薄弱，內(nèi)部元件發(fā)熱較多，而散熱情況又欠佳，內(nèi)部故障機(jī)會(huì)較多，制造電力電容器內(nèi)部材料的可燃物成分又大，所以運(yùn)行中極易著火。因此，對(duì)電力電容器的運(yùn)行應(yīng)盡可能地創(chuàng)造良好的低溫和通風(fēng)條件。
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