表面污染測(cè)量?jī)x

表面污染直接測(cè)量準(zhǔn)確性的影響因素是什么:

不同型號(hào)的儀器對(duì)不同能量B粒子的響應(yīng)是不一樣的同一型號(hào)的儀器響應(yīng)也有差別;

儀器的響應(yīng)是隨距離的增加而迅速減小，所以待測(cè)面與探測(cè)器窗保護(hù)柵網(wǎng)之間的距離 要相對(duì)固定;

儀器檢定與實(shí)際測(cè)量的相對(duì)條件差異。待測(cè)物 (場(chǎng)所) 表面的平整程度、污染物分布的均勻；待測(cè)物(場(chǎng)所)的y劑量率水平

表面污染的間接測(cè)量介紹

對(duì)于間接測(cè)量的擦拭樣品，應(yīng)該用很好屏蔽的固定測(cè)量裝置進(jìn)行測(cè)量。該裝置應(yīng)能測(cè)量低于規(guī)程限值的面活度。大多數(shù)設(shè)備能夠探測(cè)活度低于0. 4 Bq的α 污染，或低于4 Bq的β污染。對(duì)于覆蓋100 cm2的擦拭樣品（隱含去除因子F=O.1），測(cè)量非固定α 污染的面活度濃度可小于0.04 Bq ?cm 2 ，對(duì)自發(fā)射體小于0. 4 Bq ?cm 2是可能的。

表面污染測(cè)量?jī)x的刻度

為了準(zhǔn)確測(cè)量總的表面活度，現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)儀器必須經(jīng)過(guò)適當(dāng)刻度。 刻度源應(yīng)選擇其發(fā)射的 α或β輻射與現(xiàn)場(chǎng)污染物預(yù)期的輻射能量相似。 很有代表性的刻度源要用現(xiàn)場(chǎng)被評(píng)估的***性材料制備。 例如，鈾系和牡系衰變圖很復(fù)雜，表面污染測(cè)量?jī)x生產(chǎn)廠家，發(fā)射 α，表面污染測(cè)量?jī)x廠家，β和γ，儀器對(duì)每個(gè)單核素的刻度必需仔細(xì)評(píng)估，以確保探測(cè)器對(duì)這些衰變系的響應(yīng)。

儀器的MDC取決于輻射的類(lèi)型和能量，對(duì)其選擇的核素要代表現(xiàn)場(chǎng)通常碰到的核素類(lèi)型與能量范圍。 這些核素對(duì)β是14 C，63 Ni，90 Sr，Y ，99 Tc 和204Tl，對(duì) α 是230 Th 和239Pu。 一般講，源有三種幾何形狀：“紐扣源” （類(lèi)似點(diǎn)源，大約5 cm2），表面污染測(cè)量?jī)x公司，盤(pán)源，廣東表面污染測(cè)量?jī)x，覆蓋標(biāo)準(zhǔn)面積大約 15 cm2，或者分布源，典型面積范圍從126到150 cm2 。

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