| 測長機(jī)簡介 以線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度，利用機(jī)械測頭進(jìn)行接觸測量的光學(xué)長度測量工具。 以線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度，利用機(jī)械測頭進(jìn)行接觸測量的光學(xué)長度測量工具。測長機(jī)具有能在3個坐標(biāo)內(nèi)移動和2個坐標(biāo)內(nèi)轉(zhuǎn)動的可調(diào)工作臺，還帶有不同測頭和附件，常用于檢定大尺寸量塊和測量多種工件的內(nèi)、外尺寸。測長機(jī)有 1米、3米、6米和6米以上等幾種測量范圍，分度值通常為1微米。為求結(jié)構(gòu)緊湊，多數(shù)測長機(jī)不采用阿貝原則（見長度測量工具），而采用愛賓斯坦光學(xué)系統(tǒng)。這種光學(xué)系統(tǒng)能自動補(bǔ)償由于導(dǎo)軌直線度誤差引起的測量誤差。測量范圍在1米以內(nèi)的習(xí)慣上稱為測長儀，它利用讀數(shù)顯微鏡和帶有線紋尺的測量軸組成的測量系統(tǒng)（習(xí)慣上稱為阿貝頭）進(jìn)行接觸測量。阿貝頭的示值范圍一般為 100毫米。測長儀有立式和臥式兩種。它的結(jié)構(gòu)設(shè)計一般符合阿貝原則，故通常也稱為阿貝測長儀。立式測長儀和臥式測長儀的測量范圍通常分別不大于250毫米和600毫米(測量范圍大于100毫米時需要用量塊調(diào)整零位)。前者主要用于測量外尺寸,后者主要用于測量較大工件或在立式測長儀上不易***的工件如圓盤等的內(nèi)、外尺寸等。測長機(jī)具有能在3個坐標(biāo)內(nèi)移動和2個坐標(biāo)內(nèi)轉(zhuǎn)動的可調(diào)工作臺，還帶有不同測頭和附件，常用于檢定大尺寸量塊和測量多種工件的內(nèi)、外尺寸。測長機(jī)有 1米、3米、6米和6米以上等幾種測量范圍，分度值通常為1微米。為求結(jié)構(gòu)緊湊，多數(shù)測長機(jī)不采用阿貝原則（見長度測量工具），而采用愛賓斯坦光學(xué)系統(tǒng)。這種光學(xué)系統(tǒng)能自動補(bǔ)償由于導(dǎo)軌直線度誤差引起的測量誤差。測量范圍在1米以內(nèi)的習(xí)慣上稱為測長儀（圖2[測長儀]），它利用讀數(shù)顯微鏡和帶有線紋尺的測量軸組成的測量系統(tǒng)（習(xí)慣上稱為阿貝頭）進(jìn)行接觸測量。阿貝頭的示值范圍一般為 100毫米。測長儀有立式和臥式兩種。它的結(jié)構(gòu)設(shè)計一般符合阿貝原則，故通常也稱為阿貝測長儀。立式測長儀和臥式測長儀的測量范圍通常分別不大于250毫米和600毫米(測量范圍大于100毫米時需要用量塊調(diào)整零位)。前者主要用于測量外尺寸,后者主要用于測量較大工件或在立式測長儀上不易***的工件如圓盤等的內(nèi)、外尺寸等。 測長機(jī) http:/// |
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