OSP涂層厚度測量儀
產(chǎn)品簡介 ? 　　ST4080-OSP 　　非接觸、非損壞、***的OSP鍍層厚度測量 　　操作快捷、簡單，無需樣品制備工序 　　直接在線檢測實(shí)際產(chǎn)品 　　自動(dòng)繪制OSP鍍層厚度三維分布指示圖 　　自動(dòng)測試平均厚度 　　 　　ST4080-OSP介紹 　　ST4080-OSP儀器通過進(jìn)行PCB／PWB上OSP鍍層厚度的完整性、可靠性及膜層形態(tài)的定量分析，進(jìn)而檢測OSP鍍層的應(yīng)用可靠性。 　　實(shí)時(shí)無損檢測PCB／PWB上OSP鍍層厚度。 　　在OSP鍍層表面864×648μm的測試區(qū)域內(nèi)同時(shí)***測量單個(gè)面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。 　　在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測試區(qū)域內(nèi)同時(shí)***測量單個(gè)面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。 　　檢測分析的鍍層厚度范圍在0.035－3μm。 　　繪制OSP鍍層厚度三維分布圖。 　　可在PCB板上選定特定區(qū)域針對OSP鍍層厚度進(jìn)行有效的質(zhì)量監(jiān)控、失效分析以改善鍍層質(zhì)量。 　　光譜范圍：420nm－640nm 　　自動(dòng)測試平均厚度 　　 　　ST4080-OSP檢測原理 　　ST4080-OSP儀器通過分析可見光譜中不同波長的光譜分別在銅箔表面和OSP鍍層表面上反射后形成的新的關(guān)于波長的數(shù)據(jù)信息來測量OSP鍍層的厚度。從OSP鍍層表面反射的光線與從基層銅箔表面反射的光線相互干涉從而形成新的干涉圖譜。該圖譜會(huì)形成與光強(qiáng)相關(guān)的振幅曲線，ST4080-OSP儀器通過分析該曲線的振幅和頻率以確定OSP鍍層厚度和完整性。 　　 　　ST4080-OSP的特點(diǎn) 　　在OSP鍍層表面864×648μm的測試區(qū)域，同時(shí)***測量單個(gè)面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。 　　在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測試區(qū)域，同時(shí)***測量單個(gè)面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。 　　OSP鍍層的實(shí)際附著情況可以通過三維厚度分布圖進(jìn)行清晰顯示。 　　實(shí)時(shí)檢測實(shí)際產(chǎn)品上OSP鍍層厚度，無需樣品制備工序。 　　ST4080-OSP儀器測量技術(shù)對接受測試的PCB／PWB產(chǎn)品沒有任何不利、***影響。 　　可在PCB／PWB產(chǎn)品生命周期的不同階段進(jìn)行檢測，以監(jiān)控OSP鍍層在生產(chǎn)和儲(chǔ)存過程中可能產(chǎn)生的不良變化。 　　ST4080-OSP儀器可實(shí)時(shí)檢測PCB／PWB上OSP鍍層厚度和質(zhì)量。
 此儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時(shí)來電咨詢或親臨我司測試及參觀!!!
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