電子能量損失光譜儀通常在光譜模式和圖像模式上操作，這樣就可以隔離或者排除特定的散射電子束。由于在許多圖像中，非彈性散射電子束包含了許多操作者不關心的信息，從而降低了有用信息的可觀測性。這樣，電子能量損失光譜學技術可以通過排除不需要的電子束有效提高亮場觀測圖像與暗場觀測圖像的對比度。

晶體結構可以通過高分辨率透射電子顯微鏡來研究，透射電鏡EDS檢測服務，這種技術也被稱為相襯顯微技術。當使用場發(fā)射電子源的時候，觀測圖像通過由電子與樣品相互作用導致的電子波相位的差別重構得出。然而由于圖像還依賴于射在屏幕上的電子的數量，對相襯圖像的識別更加復雜。然而，這種成像方法的優(yōu)勢在于可以提供有關樣品的更多信息。

透射電鏡的終成像結果，顯現在觀察室內的熒光屏上，觀察室處于投影鏡下，空間較大，開有1～3個鉛玻璃窗，可供操作者從外部觀察分析用。對鉛玻璃的要求是既有良好的透光特性，又能阻斷X射線散射和其他***射線的逸出，還要能可靠地耐受極高的壓力差以隔離真空。由于電子束的成像波長太短，不能被人的眼睛直接觀察，電鏡中采用了涂有熒光物質的熒光屏板把接收到的電子影像轉換成可見光的影像。觀察者需要在熒光屏上對電子顯微影像 進行選區(qū)和聚焦等調整與觀察分析，這要求熒光屏的發(fā)光，光譜和余輝適當，分辨力好。多采用能發(fā)黃綠色光的硫化鋅-鎘類熒光粉做為涂布材料，直徑約在15～20cm。



如前所述，通過調整磁透鏡使得成像的光圈處于透鏡的后焦平面處而不是像平面上，就會產生衍射圖樣。對于單晶體樣品，衍射圖樣表現為一組排列規(guī)則的點，對于多晶或無定形固體將會產生一組圓環(huán)。對于單晶體，衍射圖樣與電子束照射在樣品的方向以及樣品的原子結構有關。通常僅僅根據衍射圖樣上的點的位置與觀測圖像的對稱性就可以分析出晶體樣品的空間群信息以及樣品晶體方向與電子束通路的方向的相對關系。



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